logo
Каталог
basket-button
0
Назад

FEI Prisma E сканирующий микроскоп

Специалистам по закупкам
Отправить заявку: ecnk@ecnk.ru
 copy
Связаться с менеджером 8 800 777 18 43  telegram
truckСрок поставки 2 недели
Цена (вкл. НДС)
Цена по запросу
Уточнить цену
Техническим специалистам
Технические вопросы: support@ecnk.ru
 copy
Связаться с менеджером 8 800 777 18 43  telegram
Гарантия:
1 год
Наличие:
Уточняйте у менеджера
Способ доставки
cdekdelovye-linii
Описание
Особенности
Характеристики
Комплектация
Отзывы
Инструкции

Описание

FEI Prisma E сканирующий микроскоп 

Сканирующий микроскоп FEI Prisma E представляет продукцию производства "Thermo Fisher Scientific". Установка является стационарным оборудованием и подлежит применению в лабораторных условиях. Применяется для научно-исследовательских работ в академических и промышленных лабораториях, не требует особого уровня подготовки операторов.
Микроскоп предназначен для различных сфер применения. Микроскоп полезен для анализа и ведения технологических процессов в металлургии, для контроля сварных швов, сверхпроводящих изделий и полезных ископаемых. В общем случае применим в геологии, биологии и в медицине. Вакуумные режимы позволяют не подготавливать образцы перед анализом и проводить исследования без дополнительных временных затрат. Высокое разрешение до 3 нм обеспечивается тетродной электронной пушкой с катодом из вольфрама и позволяет получать контрастные изображения благодаря детекторам с высокой чувствительностью.
Управление микроскопом реализовано при помощи интегрированного контроллера и ПЭВМ с применением специального программного обеспечения.  Программное обеспечение обладает закрытым доступом для защиты от несанкционированных действий со стороны пользователя во избежание нарушений метрологических характеристик.

Особенности

  • Prisma E – сканирующий электронный микроскоп, который обеспечивает полное представление о любом образце: изображения в композиционном и топографическом режимах можно легко дополнить определением свойств материала и его элементного состава, установив вспомогательное оборудование
  • Разрешение электронного микроскопа достигает 3 нм, а возможность работы в режиме, как высокого вакуума и низкого вакуума, так и в режиме «естественной среды» позволяют работать практически с любыми образцами
  • Отвечая на вызовы научной работы наших дней, микроскопы серии Prisma не ограничивают исследователя, позволяя получать высококачественные изображения и достоверные результаты анализа при работе с самыми сложными материалами

Характеристики

Наименование характеристики

Значение

Тип микроскопа

Сканирующий

Область применения

Материаловедение

Направление деятельности

2D-анализ

Объекты интереса

101 нм – 100 мкм

Характеристики электронной пушки

Тип катода

Термоэмиссионный (вольфрамовый)

Максимальное разрешение, нм

3

Диапазон ускоряющего напряжения, В

200–30 000

Минимальная энергия приземления электронов, эВ

20

Максимальный ток зонда, нА

2 000

Предметный столик

Тип столика

Мультифункциональный на 18 держателей 12 мм

Опция

На 18 держателей 12 мм

Наличие

На 7 держателей 12 мм

Нет

Пьезо

Нет

Механический

Наличие

Максимальный вес образца, г

500

Максимальный размер образца, Ø мм

122

Ход по осям X и Y, мм

110 × 110

Воспроизводимость по осям X и Y, мкм

< 3,0

Ход по оси Z, мм

65

Поворот, град.

360

Наклон, град.

-15 / +90

Ширина камеры, мм

340

Количество портов для установки дополнительных детекторов, шт.)

12

Детекторы

Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли (ETD)

Наличие

ИК-камера для наблюдения положения образца в камере

Наличие

Навигационная камера высокого разрешения Nav-Cam+™

Опция

Интегрированная система измерения тока луча

Опция

Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD)

Наличие

Газовый детектор вторичных электронов для режима ESEM

Наличие

T1 – нижний внутрилинзовый детектор

Нет

T2 – верхний внутрилинзовый детектор

Нет

T3 – внутриколонный детектор

Нет

Внутрилинзовый детектор Elstar SE/BSE (TLD-SE, TLD-BSE)

Нет

Внутриколонный детектор Elstar SE/BSE (ICD)

Опция

Внутриколонный детектор Elstar BSE (MD)

Нет

Детектор направленных обратно-отраженных электронов (DBS)

Опция

Газовый аналитический детектор обратно-отраженных электронов DBS-GAD

Нет

Аналитический ESEM-детектор DBS-ESEM

Нет

Детектор прошедших электронов STEM 3+

Опция

Детектор для катодолюминесценции (CL)

Опция

Детектор Raman

Опция

ЭДС

Опция

ДОРЭ/ВДС

Опция

Режимы вакуума:

Высокий вакуум, Па

< 6,0 × 10 ⁻ ⁴

Низкий вакуум, Па

200

Режим естественной среды (влажность 100 %), Па

4 000


Комплектация

  • FEI Prisma E сканирующий микроскоп
  • Онлайн-руководство пользователя
  • Руководство по эксплуатации
  • Программное обеспечение для дистанционного управления

Отзывы

5.0

5.0

1

4.0

0

3.0

0

2.0

0

1.0

0

5.0
Дмитрий Иванов21.04.2020
Комментарий: Менеджер приехал в лабораторию и провел консультацию на месте - хороший подход, выбрали из-за этого ЕЦНК

Инструкции

Рекомендация экспертов

Phenom ProX Thermo Scientific сканирующий микроскопPhenom ProX Thermo Scientific сканирующий микроскоп
Цена по запросу
FEI Verios сканирующий микроскопFEI Verios сканирующий микроскоп
Цена по запросу
Получите рекомендацию эксперта

FEI Prisma E сканирующий микроскоп

Компания ЕЦНК занимается продажей качественного оборудования для осуществления контроля качества выпускаемых изделий на производстве. На сайте ECNK.ru вы можете купить FEI Prisma E сканирующий микроскоп с поверкой по самой доступной цене в Москве.Мы предлагаем 3 варианта доставки: самовывоз, курьером или до терминала “Деловых линий” в вашем городе.
Наш адрес: ул. Вавилова, 79. Режим работы: Пн.-Пт. с 9:00 до 18:00.
Для того, чтобы заказать доставку по Москве:
  • позвоните по телефону +7 (499) 703-39-69;
  • напишите в WhatsApp на номер +7(981)125-98-20;
  • отправьте письмо на электронную почту ecnk@ecnk.ru
Также, вы можете заказать бесплатный звонок специалиста. Заполните форму обратной связи, укажите ФИО, номер телефона и адрес электронной почты.
Подпишитесь на нас чтобы быть в курсе новостей отрасли и расписания обучения